Scanning Probe Microscopy (XE-NSOM)

 

Scanning Probe Microscopy (XE-NSOM)

 

 

시료 표면의 형상을 3D로 측정할 수 있는 장비입니다.

시료 표면의 전기적, 자기적, 광학적 특징을 측정하는 모든 범위의 주사 탐침 현미경 기술을 실현 시킬 수 있습니다.

시료는 반도체, 고체, 액체 환경에서 분석할 수 있으며, 물리, 화학, 생물, 공학적 응용이 가능합니다.

Raman system과 결합하여 point - Raman spectroscopy를 측정 할 수 있습니다.

Side Reflection 모듈을 이용하여, TERS, Scattered NSOM 등의 활용이 가능합니다.

 

지원모드

- AFM (Atomic Force Microscopy)

- LFM (Lateral Force Microscopy)

- EFM (Electrostatic Force Microscopy)

- KPFM (Kelvin Probe Force Microscopy)

- Current

- NSOM (Near-field Scanning Optical Microscopy)

- MFM (Magnetic Force Microscopy)

- Force Distance Spectroscopy

- Raman Spectroscopy

- Scattered NSOM

- Capacitance