Vacuum AFM
Tungsten wire와 Optical Fiber 등의 탐침를 Tunning Fork에 붙여 Non-contact AFM 및 Near-field Scanning Optical Micrsocpy로 활용할 수 있는 시스템입니다.
본 연구실에서는 진공환경에서 시료 표면의 Topograph를 측정할 수 있는 Vacuum NSOM mode를 제공하고 있습니다.
화학, 물리, 생물, 공학 분야에서 활용이 가능합니다.
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